BeNano 180 Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀

產(chǎn)品介紹

BeNano 180 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀 是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光學檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了背向動態(tài)光散射 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態(tài)光散射技術 SLS，可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù)，可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的基礎研究和質量分析與控制。

基本性能指標

粒徑檢測

Zeta電位測試

分子量測試

微流變測試

趨勢測試

系統(tǒng)參數(shù)

檢測參數(shù)

動態(tài)光散射

●流體力學尺寸 D_h

●分布系數(shù) PD.I

●擴散系數(shù) D

●顆粒間相互作用力因子 k_d

●顆粒體系的光強、體積、面積和數(shù)量分布

●計算分子量

●溶液粘度和折射率

●流變學信息G*，G‘，G“，η*，J

電泳光散射

●Zeta電位及其分布

●帶電顆粒的電泳遷移率

趨勢測試

● Zeta電位和粒徑的pH滴定

● 粒徑和Zeta電位的溫度趨勢測試

靜態(tài)光散射

● 絕對分子量Mn、Mw、Mz

● 分子量分布

● 第二維利系數(shù)A₂

選配件

● 動靜態(tài)流動模式

BeNano動靜態(tài)流動模式（Flow Mode）是將納米粒度及Zeta電位儀同一個分離前端（FFF、GPC/SEC）相連接。分離前端可以根據(jù)尺寸將樣品進行分離，依次流出。通過檢測每個流出組分的動態(tài)光散射信號和靜態(tài)光散射號，并結合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號，得到高分辨率且不依賴于計算模型的粒徑分布、分子量分布信息。

● BAT-1自動滴定儀

樣品的Zeta電位和粒徑對于分散液介質環(huán)境具有強烈的依賴性，尤其是環(huán)境pH，不但影響Zeta電位的大小，而且會影響顆粒體系的帶電符號。BAT-1自動滴定儀與BeNano系列連用，內置三個高精度滴定泵和一個樣品輸送泵，具有樣品攪拌能力，可以對于樣品的粒徑和Zeta電位進行自動化的酸堿滴定測試，具有測試效率高、精確定量、重復性好、結果不依賴于操作者等特點。由于盛放樣品的樣品管可拋棄，避免了交叉污染的風險。

● BeScan穩(wěn)定性分析儀

BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設備，通過檢測得到樣品隨空間分布、時間、溫度的不穩(wěn)定性變化，并給出不穩(wěn)定性指數(shù)I_US，粒子遷移速度及樣品粒徑隨時間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學系統(tǒng)可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度，能更好的洞悉樣品的微觀結構變化，從而極大的節(jié)約檢測時間，縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯(lián)合使用，通過定量的I_US和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。

● 0°光電模塊

0°PD+CMOS模塊，分散液折射率，沉降法粒度和顆粒物濃度測試。